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幾種常見真空紫外以及軟X-ray 光譜儀的光學(xué)設(shè)計

更新更新時間:2019-06-28 點擊次數(shù):2796

     由于真空紫外及軟X-RAY 與可見光及紅外波段在很多光學(xué)傳輸性質(zhì)上的不同,比如,需要真空環(huán)境,很低的反射率,無合適的“透明”折射率材料,成像困難,與物質(zhì)相互作用時,表現(xiàn)出高能粒子的特性,少有衍射 等等。 由于其以上的種種特性,在其光譜儀的設(shè)計上,一般需要遵循盡量減少光路中的反射元件,以及采取掠入射等原則。  
以下介紹幾種常見真空紫外以及軟X-ray 光譜儀的光學(xué)設(shè)計:
 
1、C-T 式:Czerny Turner
 使用大量的平面光柵與分離聚焦和準(zhǔn)直鏡,是常用的一種結(jié)構(gòu)。通過光柵旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)了線性波長定位。旋轉(zhuǎn)點與光柵表面重合。聚焦和準(zhǔn)直光學(xué)可以是球形、橢圓形、環(huán)形或拋物線形,這取決于儀器的要求。這種設(shè)計提供了一個CCD探測器平面焦平面。許多用于UV- VIS – IR和真空UV的儀器都采用了這種設(shè)計。

主要特點
· 由兩塊凹面鏡完成成像,
· 平面光柵完成衍射
· 可掃描 
· 可成像,像差小
· 可裝配多個光柵
· l>100nm 到中遠(yuǎn)紅外
 
為探測更低的波段,可以在此基礎(chǔ)上,采用掠入射的C-T 結(jié)構(gòu),使得光譜探測范圍低到8nm:
 
· 基于傳統(tǒng)C-T結(jié)構(gòu)
· 掠入射: >80度入射角
· 采用平面光柵
· 良好點到點成像效果
· 高通光量
· 單點掃描或CCD成像探測
· 光譜范圍: 8-120nm
 
2、交叉C-T式 :Criss Cross C-T
十字交叉C-T光路使入射角小化。這通過減少像差提高了光學(xué)性能。Czerny-Turner的交叉光路,在真空或氮氣吹掃下,可以工作在從105nm一直延伸到LWIR。


3、正入射單色儀: Normal Incidence monochromators
正入射單色儀使用凹面光柵來分散和聚焦光。由于減少了光學(xué)表面,它們的工作波長可短至30nm。“McPherson 15°”是使用此設(shè)計的一個設(shè)備;波長驅(qū)動器可以旋轉(zhuǎn)和聚焦光柵,以獲得高光譜分辨率。該儀器適用于CCD和微通道板(MCP)增強探測器。這些設(shè)計幾乎都是專為真空紫外線波段而設(shè)計;

· 具備理想的成像效果,
· 適合搭配CCD 等探測器使用,
· 可以水平色散或者垂直方面色散使用。
· 焦距: 1m,3m, 6.65m
· 波長范圍: 30-1200nm

4、 Seya-Namioka 設(shè)計: 
此設(shè)計專為真空紫外設(shè)計,在入口和出口縫隙之間使用了70°15'的角度。采用凹面、球面、羅蘭圓光柵。經(jīng)過改進的光柵可以提高分辨率。這些設(shè)計主要用于實驗需要在105nm以下工作,并且需要在狹縫之間有很大的空間來容納實驗室、光源或檢測器的情況。
 
5、 改進型Seya-Namioka 設(shè)計:Modified Seya-Namioka
改進的Seya-Namioka 設(shè)計或校正全息設(shè)計使用了校正凹面全息光柵,該光柵設(shè)計減少了散射光,提高了光譜分辨率。我們的234/302光譜儀就是用這種結(jié)構(gòu),一個緊湊,快速的光學(xué)系統(tǒng),具有良好的分辨率和通光量,可以覆蓋從30nm到可見區(qū)域;
 
· 入射和出射狹縫固定,夾角基本固定不變:70度左右;
· 單塊凹面光柵完成成像和衍射
· 通過轉(zhuǎn)動光柵的方式實現(xiàn)波長掃描。
· 工作波長范圍:30nm 到可見及近紅外波段
· 像差修正--Modified Seya-Nomioka 結(jié)構(gòu)

6、掠入射羅蘭圓結(jié)構(gòu) Rowland Circle Grazing Incidence
掠入射儀器的工作范圍為~1 ~ >100nm。一條狹縫穿過羅蘭圓,CCD探測器安裝在垂直于出口射線的位置,微通道板增強器與圓相切,可以沿圓掃描以截取感興趣的區(qū)域。光也源可以安裝在用于校準(zhǔn)系統(tǒng)的掃描狹縫處,作為單色可調(diào)光源系統(tǒng);
 
· 主要原理基于羅蘭圓
· 入射狹縫固定不動,
· 出射狹縫沿羅蘭圓圓周進行掃描采集光譜
· 掠入射入射角大于80度
· 光譜范圍: <1nm—310nm
 
7、平場校準(zhǔn)光譜儀 Flat Field Aberration Corrected
平場校準(zhǔn)光譜儀依賴于*形狀的光柵基板或像差校正槽的設(shè)計和間距。如果感興趣的波長和范圍都是已知且固定不變的,那這種結(jié)構(gòu)就非常有用。其探測范圍有限,且儀器結(jié)構(gòu)非常簡單。由于對光柵的要求,現(xiàn)有的設(shè)計很少,而且造價昂貴。它們也是收集低分辨率紫外光譜的有效方法。
· VLS(Variable Line Spacing),可變間距光柵
· 獲得平場焦平面;
· 良好的像差修正
· 超環(huán)面基地VLS光柵-像散修正;
· 光譜范圍: 1-20nm 或10-170nm
 
    美國McPherson有限公司是一家專業(yè)的光譜儀生產(chǎn)廠商,公司位于波士頓西北部的Chelmsford。在McPherson所有的產(chǎn)品中,除去傳統(tǒng)光譜儀以及高分辨率光譜儀之外,富盛名的就是其真空紫外及軟X-ray光譜儀了,特別是此類產(chǎn)品在*同步加速器以及核聚變研究方面的應(yīng)用,已經(jīng)成了光譜測試領(lǐng)域的傳奇。在這些光譜儀中,包括所有上述比較常見多種結(jié)構(gòu)設(shè)計,比如Seya-Namioka設(shè)計,平場光柵光譜儀以及掠入射光柵光譜儀等,波長范圍可以覆蓋從0.5nm一直到近紅外波段,適合于不同應(yīng)用的場合。

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