棱鏡耦合測試儀采用棱鏡耦合方法測試樣品折射率，可測試波長633nm、935nm、1549nm處的折射率值，通過軟件做曲線耦合科求出任何波段的模擬值。

       測試儀提高了用戶友好的控制程序，和新測量的功能，允許測量從常見到特殊的薄膜而不需依靠內(nèi)部系數(shù)或菜單式校準(zhǔn)曲線，不必預(yù)先知曉厚度及折射率，±.0005常規(guī)折射率分辨率-尤其在大批量生產(chǎn)時比其他技術(shù)更具優(yōu)勢（可獲得更高折射率），通用化-沒有固定的薄膜/基底合并菜單，可測量雙膜結(jié)構(gòu)中的單膜厚度及折射率，體材料或基底材料的高精度折射率測量，快速測量薄膜或漫反射光波導(dǎo)參數(shù)。

       測試儀將APD和PIN-TIA的耦合測試整合于一體，方便使用，可高精度、快速檢測Vbr、響應(yīng)度和接收信號強度，提供4個波長的調(diào)制光源，響應(yīng)電流測試條件可以選擇加電壓Vbr-X、定點輸出X，系統(tǒng)自帶大尺寸液晶顯示屏。棱鏡耦合測試儀可精確顯示雪崩電壓，響應(yīng)電流等性能參數(shù)并提供示波器輸出接口，方便耦合觀測，采用無極旋鈕，方便操作并帶有掉電記憶功能。

       電壓電源和加電開關(guān)具備緩沖電保護(hù)電路、防過充、反沖、ESD和浪涌等保護(hù)電路，高壓腳接地，測試雪崩電壓超過75V和TIA電流超過設(shè)置范圍會停止測試保護(hù)器件，支持上位機保存數(shù)據(jù) 并查詢，數(shù)據(jù)刷新速度達(dá)到5ms，查詢間隔10~15ms。