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LCD/OLED缺陷自動光學(xué)檢測系統(tǒng)

簡要描述:在本文中,我們將描述如何在全自動測試系統(tǒng)中使用影像亮度色度計,在高速度、大批量的生產(chǎn)環(huán)境中識別和量化缺陷。本文內(nèi)容涵蓋測試設(shè)置,以及可以執(zhí)行的測試范圍 – 從簡單的點缺陷檢測到復(fù)雜的 Mura檢測和評估。

  • 產(chǎn)品型號:Truetest
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-10-15
  • 訪  問  量:4415
詳細介紹

如何使用影像亮度色度計進行 FPD 自動光學(xué)檢測
 

在產(chǎn)線上及產(chǎn)線的zui終檢測中,主要有三種方法可對高速生產(chǎn)過程中的平板顯示屏 (FPD) 進行光學(xué)檢測:
 
1) 人工檢測 —— 輕松處理比較復(fù)雜的測試要求。但與電子測試方法相比,它相對緩慢,變化較大
2) 基于機器視覺的檢測 —— 非??旖荩瑴y試簡單。但很多測試不能反映出人的視覺體驗
3) 基于影像亮度色度計的檢測 —— 在速度上介于上述兩種方法之間。能夠像人那樣進行“目測”,而且具有高度的可靠性和可重復(fù)性
 
使用影像亮度色度計系統(tǒng)和相關(guān)分析軟件,可以評估 FPD 的亮度、色彩均勻度和對比度,并識別 FPD 上的缺陷,這種用途已經(jīng)被廣為接受。影像亮度色度計和機器視覺之間的基本差別在于:影像亮度色度計可以地匹配人類視覺感知,包括對光線和色彩均勻度 (以及不均勻性 )的感知。
 
在本文中,我們將描述如何在全自動測試系統(tǒng)中使用影像亮度色度計,在高速度、大批量的生產(chǎn)環(huán)境中識別和量化缺陷。本文內(nèi)容涵蓋測試設(shè)置,以及可以執(zhí)行的測試范圍 – 從簡單的點缺陷檢測到復(fù)雜的 Mura檢測和評估。

 
測量挑戰(zhàn)
影像亮度色度計系統(tǒng)是基于 CCD 的影像系統(tǒng),經(jīng)過校準(zhǔn)之后,它對光線、亮度和色彩的反應(yīng)與 CIE 模型定義的標(biāo)準(zhǔn)人工觀察者相同??傻赝瑫r測量亮度、色彩及其空間關(guān)系。測試時,系統(tǒng)會生成數(shù)據(jù),并可隨時使用這些數(shù)據(jù)來確定顯示屏均勻性和對比度性能。此外,還可對均勻度差異進行分析,以識別和定位潛在的顯示屏缺陷。顯示屏測量和分析面臨的三大重要挑戰(zhàn)是:
 
1) 識別與人類視覺感知具有高度關(guān)聯(lián)性的缺陷
2) 量化缺陷的嚴重程度
3) 快速執(zhí)行高重復(fù)度的分析
 
缺陷的分析和量化可以作為依據(jù),幫助我們確定導(dǎo)致缺陷的顯示屏組件,以及接下來采取的行動 – 例如廢棄顯示屏或返回進行修理 – 從而提高質(zhì)量測試的效率,還可以降低成本。與人工視覺檢測相比,使用影像亮度色度計的測試更加快捷和靈活,重復(fù)度更高,另外它在匹配人類視覺感知方面的度高于機器視覺。
 
影像亮度色度計可以地捕獲 FPD 上的光線和色彩變化的空間關(guān)系,這一優(yōu)點使得這種測試方法非常適用于評估視覺性能。

 
測量組件和測試
通過適當(dāng)?shù)淖詣訙y試序列,影像亮度色度計可用于獲取廣泛、的高分辨率數(shù)據(jù),以描述特定顯示屏的性能。對于典型測試序列,此類測量數(shù)據(jù)通??稍趲酌腌娭烈环昼娭畠?nèi)獲取,具體時間取決于顯示屏技術(shù)和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技術(shù),這些影像可用于確定與物理原因直接相關(guān)的各種缺陷之間的細微差異。
 
要使用影像亮度色度計進行顯示屏的自動測量和分析,需要使用組合測量控制和分析軟件。我們針對此應(yīng)用開發(fā)的系統(tǒng)整體結(jié)構(gòu)如圖 1 所示。該系統(tǒng)的主要組件包括:(1) 科研級影像亮度色度計系統(tǒng);(2) 基于 PC 的測量控制軟件,它不僅控制影像亮度色度計,還控制待測試設(shè)備上的測試影像顯示;以及 (3) 一套能夠運行各種測試的影響分析函數(shù)。因此,該系統(tǒng)可針對各種顯示屏缺陷 (例如點缺陷、線缺陷和 Mura)提供量化自動檢測。
 
實施的部分測試包括:

圖 1. FPD AOI 測試設(shè)置,影像亮度色度計處在自動軟件控制下
 


顯示屏缺陷檢測應(yīng)用
顯示屏缺陷分為很多類型,例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵點 (例如脫層 )、屏幕損壞 (例如劃痕 )、影像均勻度的疵點 (例如 Mura)。利用對視覺感知的研究,我們可以根據(jù)人工觀察者發(fā)現(xiàn)這些缺陷的明顯程度 (或者是否明顯 ),通過數(shù)字方式對這些缺陷進行分類。這個分析過程速度很快,而且重復(fù)度很高。它適用于多種顯示屏技術(shù),包括液晶、等離子、OLED 和投影顯示屏。
 
在本文中,我們通過分析多個顯示屏,演示這些缺陷檢測和分類方法。圖 2 顯示了存在行缺陷的顯示屏的光學(xué)測量,分析軟件在顯示屏影像上識別和指示這個缺陷,如圖 3 所示。行缺陷是一種比較容易確定根源的缺陷;其起因是液晶屏故障。
   

圖 2.存在可視行缺陷的顯示屏屏幕的光學(xué)測量。          圖 3.行缺陷是由影像亮度色度計 AOI 軟件識別的;屏幕上為用戶指明了缺陷位置。
 
圖 4 顯示了存在點缺陷的顯示屏的光學(xué)測量;分析軟件在顯示屏影像上識別和指示這個缺陷,如圖 5 所示。如果分析確定該故障的起因是液晶屏像素停滯,則可將點缺陷歸類為像素故障。但是,從單個角度直視并不能區(qū)分死像素與顯示屏玻璃背面微粒之間的差異。在此情況下,需要進行第二道檢驗以識別故障原因。
   
圖 4.存在點缺陷的顯示屏的光學(xué)測量 – 您能看到嗎?    圖 5.點缺陷是由影像亮度色度計 AOI 軟件識別的,并在顯示屏屏幕上標(biāo)記,我們放大了該點,讓它更容易看到。


Mura的檢測和分類可能比較復(fù)雜。 Mura通常是亮度和色彩的不均勻性,覆蓋較大的不規(guī)則區(qū)域。如果發(fā)現(xiàn)亮度和色彩對比度超過了可感知的閾值,則表示檢測出 Mura。但是,由于人工感知這些對比度取決于多個因素,包括視距、空間頻率和方向,因此我們無法通過查看對比度的簡單值,來識別相關(guān) Mura。
 
在對顯示屏缺陷的人類視覺感知建模方面,我們zui近取得了進展,這使我們能夠從“zui小可覺差”(JND)的角度來量化 Mura?;谌斯び^察員的采樣,我們定義了 JND 標(biāo)度,如果 JND 差異為 1,則從統(tǒng)計上無法察覺;在標(biāo)度上,JND 為 0,表示沒有可視的空間對比度,JND 值為 1,表示*個可察覺空間對比度 – 這樣就能針對各種顯示屏技術(shù)對顯示缺陷進行分級。因此,我們可以處理亮度和色彩的空間分配的影像亮度色度計測量,以創(chuàng)建影像的 JND 映射,其中 Mura缺陷在與人類視覺感知直接關(guān)聯(lián)的前提下進行了分級。
圖 6 顯示了存在 Mura缺陷的顯示屏,經(jīng)過分析后,我們在顯示屏影像上識別了該缺陷,如圖 7 所示。
     
圖 6.對存在 Mura缺陷的顯示屏進行影像亮度色度計測 量,您能夠找到這個缺陷嗎?


圖 7.該 Mura缺陷是由影像亮度色度計 AOI 軟件在顯示屏上識別的。它的范圍與 JND 值一同顯示。
 

圖 8 和圖 9 顯示了識別 Mura的步驟。作為中間步驟,它會生成一個差異影像,顯示相對于參考影像的亮度偏差。然后計算顯示屏的 JND 映射。請注意,圖 7 所示的 Mura測試有意忽略了 JND 影像中的明顯邊緣效應(yīng)。這些效應(yīng)可以簡單地單獨識別和分類。
識別 Mura缺陷并不是基于各區(qū)域之間的對比度計算的簡單數(shù)學(xué)計算。首先, Mura區(qū)域的大小和形狀各不相同。其次,人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制約 – 視頻、空間頻率和色彩。
     
圖 8.差異圖片顯示了相對于計算參考影像的偏離。Mura的位置突出顯示。


圖 9.顯示了顯示屏 JND 映射的“偽彩色圖像”。顯示屏邊緣的漏光和明顯 Mura缺陷標(biāo)識為較大的 JND 值。


 
基于影像亮度色度計的 AOI 測試系統(tǒng)可以快速可靠地識別和量化顯示屏缺陷。為確定或分類缺陷根源,從而確定顯示屏的狀態(tài),有時需要人工檢測。很多情況下,例如圖 3 所示的行缺陷,識別的缺陷及其起因之間存在一對一關(guān)系。在這些情況下,我們可以即時對缺陷進行分類,而且無需人工檢測。而在其他一些情況下,例如某些 Mura缺陷,缺陷可能有多種原因,因此我們需要更多信息幫助進行分類。執(zhí)行這種分類的一種高效方法是讓人工操作員確定哪種原因是正確的。當(dāng)需要人工分類時,為了提高效率,TrueTest 會向操作員指示需要進一步檢驗的缺陷的位置和詳細信息??梢栽谌斯づ袛嗷A(chǔ)上進行加速,例如專門針對需要分類的缺陷,以及提供適當(dāng)?shù)募毠?jié)。
 
對于圖 4 和 圖 5 中所示的點缺陷,操作員可以知道暗點的準(zhǔn)確位置和相關(guān)信息,從而快速確定該缺陷是死像素,還是顯示屏玻璃背面的微粒。
 
總結(jié)
本文檔所述的影像亮度色度計 AOI 測試方法可以應(yīng)用于多種顯示屏技術(shù), FPD(液晶、等離子、OLED)和投影顯示屏均可使用。這些方法提供與人工視頻感知相關(guān)的快速可重復(fù)測量,能夠通過數(shù)字方式標(biāo)識缺陷特征,因而不僅可以識別顯示屏缺陷,還能夠按原因?qū)θ毕葸M行分類。這使我們能夠在制造應(yīng)用中對顯示屏進行*測量,并根據(jù)用戶定義的標(biāo)準(zhǔn),自動確定顯示屏是否通過測試。更加重要的是,它還可以自動確定修補措施 (例如返工或廢棄 )。


 

 


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